金屬合金成分檢測(cè)儀_分析儀器:X射線熒光光譜儀的特征是波長(zhǎng)非常短,頻率很高,其波長(zhǎng)約為(20~0.06)×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個(gè)能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的。
金屬合金成分檢測(cè)儀_分析儀器特點(diǎn)
X射線熒光光譜儀的特征是波長(zhǎng)非常短,頻率很高,其波長(zhǎng)約為(20~0.06)×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個(gè)能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠?jī)?nèi)層的電子躍遷時(shí)發(fā)出來的,而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時(shí)發(fā)射出來的。X射線在電場(chǎng)磁場(chǎng)中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流,因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。
X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標(biāo)識(shí)譜兩部分組成 ,標(biāo)識(shí)譜重疊在連續(xù)譜背景上,連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射,其短波極限λ 0 由加速電壓V決定:λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù),e為電子電量,c為真空中的光速。標(biāo)識(shí)譜是由一系列線狀譜組成,它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生,每種元素各有一套特定的標(biāo)識(shí)譜,反映了原子殼層結(jié)構(gòu) 。同步輻射源可產(chǎn)生高強(qiáng)度的連續(xù)譜X射線,現(xiàn)已成為重要的X射線源。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測(cè)合金元素成分檢測(cè)儀,專門研發(fā)測(cè)試合金成分分析.測(cè)試過程校準(zhǔn),保證測(cè)量精度,內(nèi)置多條曲線,可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行成分分析,在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
產(chǎn)品型號(hào):EDX 4500H
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間:30秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
金屬合金成分檢測(cè)儀_分析儀器應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)(RoHS、鹵素)